Powrót do listy usług
Logotyp

Analiza elementarna techniką XRF

Wydział Technologii Chemicznej

Instytut

Instytut Technologii i Inżynierii Chemicznej

Zakład

Zakład Technologii Chemicznej

Typ działania

Konsultacje

Usługi

Ekspertyzy

Słowa kluczowe

Opis
Nieniszcząca próbkę analiza elementarna od węgla do ameryku w zakresie od ppm do % przydatna w analizach środowiskowych, produktów i surowców w przemyśle: spożywczym, farmaceutycznym, kosmetycznym, materiałów budowlanych, szklarskim, petrochemicznym, metalurgii żelaza i metali nieżelaznych, tworzyw sztucznych